Растровые (сканирующие) электронные микроскопы предназначены для проведения исследований микро- и нано-структуры поверхности различных образцов. Базовое оснащение сканирующих электронных микроскопов позволяет изучать морфологию поверхности образца, проводить измерения размеров, формы, ориентации и других параметров микро- и нано-объектов в диапазоне размеров от нескольких сантиметров до долей нанометров с увеличениями более 1 млн. крат.

Если дооснастить прибор специализированными аналитическими приставками, появляется возможность изучать не только морфологию, но и элементный состав образцов, изучать ориентацию микрокристаллов, строить карты распределения химических элементов по площади образца и др.

К таким приставкам, прежде всего, относятся спектрометры с дисперсией по энергиям (ЭДС) и по длинам волн (ВДС), а также системы регистрации и анализа картин дифракции обратно-рассеянных электронов (ДОРЭ).

• ЭДС позволяют проводить экспресс-анализ элементного состава образца,
• ВДС-анализ требует значительно больше времени, но позволяет получать данные с более высокой точностью (предел обнаружения ВДС по легким элементам выше, чем ЭДС на 2 порядка)
• ДОРЭ-анализ позволяет изучать структуру и текстуру кристаллических материалов.

Помимо этого электронные микроскопы могут оснащаться приставками для механических и термических испытаний непосредственно в камере образцов.

Современные сканирующие электронные микроскопы имеют полностью компьютеризированное управление, что позволяет даже неподготовленному оператору освоить работу с микроскопом за два-три дня.

Японская фирма JEOL (Japanese Electron Optics Laboratory), имеющая самый большой в мире опыт производства электронных микроскопов, является признанным мировым лидером в этой области. Ей принадлежит около 50% всего рынка электронных микроскопов. Российские специалисты работают на технике JEOL с 50-х годов 20 века и высоко ценят ее за высочайшие технические характеристики, надежность, неприхотливость, низкую стоимость эксплуатационных расходов.

Помимо микроскопов JEOL предлагает всю линейку приборов для пробоподготовки, оптимизированных для проведения тех или иных исследований с помощью РЭМ.

С учетом высокого спроса на продукцию фирмы JEOL в России, с 2005 года в Москве работает заводской сервисный центр JEOL , который осуществляет обслуживание всего поставляемого оборудования силами японских и русских сервисных инженеров. Также в Москве имеется склад запчастей и расходных материалов, которые могут быть поставлены по требованию заказчика в течение считанных дней.Вы можете ознакомиться с более подробным описанием этих растровых электронных микроскопов на соответствующих страницах нашего сайта:

Растровые электронные микроскопы JEOL с полевой эмиссией:

Новейший аналитический растровый электронный микроскоп JEOL JSM-7600F (катод Шоттки) >>>

Автоэмиссионный растровый электронный микроскоп JEOL JSM-7500F >>>

Аналитический растровый электронный микроскоп JEOL JSM-7001F (катод Шоттки) >>>

Недорогой автоэмиссионный растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6701F >>>

Термоэмиссионные растровые электронные микроскопы JEOL:

Универсальный растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6610 >>>

Универсальный растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6510 >>>

Компактный растровый электронный микроскоп JEOL JCM-5700 >>>

Настольный растровый электронный микроскоп JEOL JCM-5000 >>>