В конфигурации с предметным столиком FN1 и микроманипуляторами Narishige

Специализированный микроскоп для электрофизиологии и экспериментов по Patch-Clamp методу

– больше места для плавного перемещения электрода

Коррекция хроматических аберраций вплоть до ИК-диапазона (до 850 нм).

Новые 40Х и 60Х объективы для ИК-ДИК изображения с высокой четкостью.

Объектив 100Х с NA 1.1 и рабочим отрезком 2,5 мм с функцией коррекции аберрации по глубине и аберрации, вызванной изменениями температуры.

Вертикальное движение револьверных насадок объективов позволяет менять увеличение без перемещения чашки Петри (15 мм или менее).

Удобство выбора режима ИК-света или отраженного освещения.

При установке дополнительного двойного порта переменного увеличения (0,35Х, 2Х, 4Х) можно выполнять широкопольное наблюдение с сильным увеличением с помощью одного лишь объектива 16Х.

Брошюра