JSPM-5200 – это простой в управлении многофункциональный высокоразрешающий сканирующий зондовый микроскоп, позволяющий проводить исследования образцов различными методами в различных средах. В его камере образцы можно изучать и в воздушной среде, и в контролируемой атмосфере, и в жидкости, и в вакууме, при температурах от -143° C  до +500° C.  JSPM-5200 может также проводить серии заданных измерений, включая комбинации сигналов разного типа и быстрые переключения режимов работы. Открытая архитектура данного прибора предоставляет достаточное количество многофункциональных портов и возможность быстрого доступа к зонду. JSPM-5200 может быть переконфигурирован в атомно-силовой микроскоп (АСМ), либо в сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) простой сменой «головки». СТМ-режим включает в себя: CITS, I-V, S-V, и I-S. Стандартные режимы АСМ включают контактную микроскопию, микроскопию сил трения, токовое картирование, безконтактную и дискретную контактную микроскопию с детекцией как касания, так и частоты, а также фазовое картирование. Запатентованный бездрейфовый столик обеспечивает крайне высокую стабильность всей системы построения изображений.

Основные технические характеристики: