Nikon Eclipse L200 / L200D
Микроскоп для инспекции в электронике
Nikon Eclipse L200 – новый микроскоп для IC инспекции пластин, фотомасок и других задач в электронике.
L200D – модификация с комбинированным отраженным/проходящим светом. Возможна комплектация с автоматическим загрузчиком пластин. Максимальный размер образца: диаметр 200 мм
Кратность увеличения: 50-1000x (В зависимости от комбинации окуляра и объектива). Контраст темное поле входит в базовую комплектацию.
Технические характеристики
| Оптическая система | CFI60, бесконечная оптика |
| Механизм фокусировки | Перемещение: 29 мм, грубая фокусировка: 12.7 мм/об. (регулируемый крутящий момент, с механизмом рефокусировки),Точная фокусировка: 0.1 мм/об., шкала: 1мкм максимальная высота образца: 13 мм (22 мм со стеклом предметного столика) |
| Револьверная насадка объективов: моторизованная,
универсальная, шестипозиционная, предусмотрен шлиц для установки ДИК-призмы. |
|
| Осветитель | Галогенная лампа на 12 В – 100 Вт, четыре монтируемых фильтра с диаметром 25 мм (NCB11, ND16, ND4), монтируемый поляризатор/анализатор |
| Ртутный осветитель | Ртутная лампа, мощность 100Вт |
| Окулярный тубус | L2-TT: наклонный, тринокулярный тубус прямого изображения |
| Предметный столик | Предметный столик 8 x 8, перемещение: 205 x 205 мм, функция скользящего столика |
| Объективы | Серия CFI LU/L Plan |
| Окуляры | Окуляр Серии CFI с полем зрения до 25 мм |
| Вес | 44 кг |