Сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) JSPM-4500 предназначен для изучения поверхности с максимальным разрешением. Гибкая конструкция прибора позволяет включать его в качестве дополнительной компоненты имеющейся у заказчика исследовательской установки, а также использовать его в качестве самостоятельного инструмента. Полный комплект прибора включает камеры препарирования, модификации и исследования поверхности. Прибор может дооснащаться вспомогательными камерами пробоподготовки и анализа. JSPM-4500 обеспечивает атомное разрешение в атомно-силовом и туннельном режимах (АСМ и СТМ).

Прибор может быть дооснащен приставками для исследования образцов при температурах от 20К до 1500К.

Туннельные режимы включают:

• режим спектроскопии;
• измерения зависимости туннельного тока от напряжения на зонде;
• измерения зависимости туннельного тока от расстояния до зонда;
• измерения зависимости туннельного тока от расстояния до зонда и напряжения на нем.

Стандартные атомно-силовые режимы включают:

• контактный режим;
• режим картирования латеральных сил;
• режим картирования токов растекания;
• режим бесконтактной микроскопии;
• режим  дискретной контактной микроскопия с частотным детектированием;
• режим фазовой микроскопии.