JSM-7500F – автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп ультравысокого разрешения. Данный прибор уникален тем, что даже при низком ускоряющем напряжении он обеспечивает сверхвысокое разрешение (1,4нм при 1кВ). Это делает JSM-7500F прекрасным инструментом для анализа текстуры наноструктурных объектов, особенно тех, которые чувствительны к воздействию электронных пучков.

Низкая чувствительность к вибрациям пола и акустическим шумам существенно снижают требования по подготовке помещения для установки JSM-7500F. Полностью обновленный интерфейс позволит даже начинающим операторам автоэмиссионных растровых микроскопов чувствовать себя уверенно рядом с данным прибором и получать хорошие результаты.

Особенности прибора:

• Режим регистрации электронов, отраженных под малыми углами (LABE, запатентован JEOL):
  1. снимает эффект зарядки образца;
  2. позволяет регистрировать отраженные электроны малых энергий;
  3. дает более полную информацию о мелких деталях поверхности и композиционном контрасте.
• Одновременное наблюдение 4 разных сигналов с 16-битным динамическим диапазоном.
• r-фильтр позволяет проводить фильтрацию по энергиям вторичных и отраженных электронов.
• Система “Gentle Beam”  позволяет уменьшить заряд на непроводящих образцах и изучать их с высоким разрешением при низких ускоряющих напряжениях.
• Автоматическая замена образцов (опция).
• Выдвижной детектор отраженных электронов.
• 5-тиосевой моторизованный столик образцов с автоматической защитой.