JEM-ARM200F – прибор, анонсированный компанией JEOL в марте 2009 г. Эта модель оснащается штатным встроенным корректором сферических аббераций для ПРЭМ режима. Благодаря корректору удалось значительно повысить разрешение и аналитические возможности этого прибора, открывающие возможности изучения образцов на атомном уровне.

JEM-ARM200F—квинтэссенция всех передовых разработок компании JEOL в области просвечивающей электронной микроскопии. Гарантированные характеристики этого ПЭМ, а также его стоимость, превосходят заявляемые параметры любого из ныне существующих на рынке просвечивающих электронных микроскопа.

Этот микроскоп позиционируется, прежде всего, как исследовательский инструмент высочайшего класса, хотя может использоваться для решения и технологических задач.