Бюджетная двухлучевая система JIB-4500
JIB-4500 – это недорогой в обслуживании высокопроизводительный растровый электронный микроскоп с катодом из гексаборида лантана + высокопроизводительная приставка со сфокусированным ионным пучком.
Прибор оснащен высокочувствительными детекторами, которые могут работать одновременно в режиме реального времени.
В JIB-4500 реализована запатентованная технология резки и трехмерной реконструкции S3 TM, которая позволяет формировать различные объемные структуры.
Прибор может оснащаться инжекторами для напыления чувствительных и проводящих образцов углеродом или вольфрамом.
Также, непосредственно в камеру образцов данного прибора возможна установка наноманипуляторов серии Omniprobe, которые позволяют производить различные механические манипуляции с модифицируемыми объектами.
Основные характеристики прибора:
| СФОКУСИРОВАННЫЙ ИОННЫЙ ПУЧОК (СИП) | |
| Источник ионов | Ga-источник, 5 – 30 кВ, 30 нА (при 30 кВ) |
| Увеличение | x30, х100 – x300,000 |
| Разрешение | 5 нм (при 30 кВ) |
| РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП (РЭМ) | |
| Источник электронов | LaB6, 0.3 – 30 кВ, 1 мкА |
| Увеличение | x5 – x1,000,000 |
| Разрешение | 2.5 нм (30 кВ) |
| Столик образцов | гониометрический (X: 76 мм, Y: 76 мм, Z: 5-48 мм) |