Система Cross-Section Polisher предназначена для получения поперечных сечений образцов. Данный прибор не требует какой-либо предварительной пробоподготовки. Часть образца закрывается специальной защитной пластиной, защищающей ее от воздействия пучка ионов аргона. Пучок падает перпендикулярно поверхности пластины и вытравливает незащищенную пластиной часть образца. Этот процесс очень напоминает резку бумаги «под линейку». Малая энергия пучка (2 – 6 кэВ) и прямой угол падения сводят к минимуму радиационные повреждения получаемого поперечного сечения, и тем самым сохраняют исходные структуру и фазовый состав образца, что особенно важно для таких исследований как дифрактография отраженных электронов (например, при помощи детектора HKL Channel 5 EBSD).

Cross-Section Polisher прекрасно зарекомендовал себя при подготовке мягких материалов, неоднородных твердых растворов, минералов, композитов, керамик, пористых и слоистых структур к исследованиям в растровых электронных микроскопах.