Электронно-зондовый микроанализатор JXA-8230
Новейшая модель электронно-зондового микроанализатора (микрозонда) JEOL JXA-8230, пятое поколение Суперпроба, является логическим продолжением линейки приборов данного класса JEOL JXA-8100 и JXA-8200 и обладает, по сравнению с ними, рядом новшеств и преимуществ.
Разработчики JEOL работают в тесном сотрудничестве с исследователями, учитывая их рекомендации и пожелания. В итоге такого сотрудничества был создан прибор, сочетающий наилучшие характеристики, широчайшие возможности и простоту управления. Микрозонд предназначен, в первую очередь, для локального количественного анализа большого количества образцов в диапазоне
элементов от бериллия до урана, построения карт распределения элементов по площади, вдоль профиля и т.д. Предел обнаружения для большинства элементов составляет не хуже 10ppm, в зависимости от применяемых стандартов, способа пробоподготовки и
методик измерения.
Электронно-оптическая система с мощной системой стабилизации,
от 1 до 5 волновых спектрометров плюс один энергодисперсионный, большой выбор программного обеспечения, высокоточный гониометрический столик с моторизованным приводом, – все это
позволяет оператору днем только намечать точки для анализа.
Микрозонд проанализирует все в автоматическом режиме. В отли-
чие от приборов предыдущих поколений, новые модели позволяют получать не только анализы, но и изображения высокого качества во вторичных и отраженных электронах, картины катодолюминесценции и картины дифракции отраженных электронов.
· Простое управление прибором с помощью PC, все основные функции микрозонда автоматизированы
· Новые спектрометры с большими кристалл-анализаторами имеют более высокую чувствительность при анализе примесей. Что важно, при этом повышается скорость счета без ущерба для энергетического разрешения и отношения пик/фон.
· Высокое качество спектрометров и кристалл-анализаторов позволяет проводить анализ химического состояния элемента, благодаря эффекту сдвига пиков в зависимости от того, в каком химическом соединении находится анализируемый элемент (т.н. явление химсдвига) и тонкую структуру спектров.
· Большой выбор спектрометров и кристалл-анализаторов (в том числе, более высокая точность при количественном анализе легких элементов).
· Минимальный шаг перемещения столика составляет 0,2 мкм (опция, в стандартном варианте 0.5 мкм).
· Оптический микроскоп с цветной телекамерой позволяет наблюдать реальные цвета различных участков образца в оптическом диапазоне (увеличение до 400х).
· Изображения в отраженных и вторичных электронах с увеличением от 40х до 300 000х.
· Программное обеспечение для элементного и фазового картирования, количественного анализа методами ZAF, Phi-Rho-Z и Бенса-Олби, анализа частиц, тонких пленок, построения фазовых диаграмм тройных систем и для картирования состава криволинейных поверхностей.
· Система автофокусировки (опция).
Основные характеристики микроанализатора JXA-8230:
| Диапазон анализируемых элементов | от 4(Ве) до 92(U) |
| Диапазон длин волн | от 0,087 до 9,3 нм |
| Количество волновых спектрометров | от 1 до 5 |
| Энергодисперсионный спектрометр | 1 |
| Диапазон перемещения столика образцов | по оси X и Y: 100 мм, 100 мм |
| Точность позиционирования образца | 0,5 мкм |
| Максимальный размер образца | 100 мм х 100 мм х 50 мм (В) |
| Анализируемая область | 90 мм х 90 мм |
| Скорость сканирования столиком образцов | 15 мм/сек |
| Ускоряющее напряжение | От 1 до 30кВ (с шагом 0,1кВ) |
| Ток зонда | от 10-12А до 10-5А |
| Стабильность тока зонда | ±0,05%/час, ±0,3%/12 часов (для W катода) |
| Минимальный диаметр зонда | 40нм (10кВ, 10-8А) 100нм (10кВ, 10-7А) |
| Разрешение во вторичных электронах | 6 нм (для W катода) и 5нм для LaB6, при 30кВ, на рабочем отрезке 11мм |
| Изображение в отражённых электронах | топографический и композиционный контраст |
| Увеличение в режиме сканирования | от 40 до 300 000х |