Телефон:
+7-495-223-4000
Факс:
+7-495-223-4001
E-mail:
main@tokyo-boeki.ru

Jeol JEM-2100Plus

Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | main@tokyo-boeki.ru
200 кВ ПЭМ с катодом из гексаборида лантана

JEM-2100Plus представляет собой обновленную модель JEM-2100, которая сохранила все преимущества прекрасно зарекомендовавшей себя колонны JEM-2100, но также получила новый дизайн, интерфейс и систему управления «TEM Center».
Более компактный эргономичный JEM-2100Plus занимает существенно меньше места: ширина прибора 2036мм вместо 2250мм, ассиметричный стол оператора стал гораздо удобнее. Панели управления с металлическими кнопками и ручками снабжены LED подсветкой.

Широкий выбор полюсных наконечников и различных приставок позволяет сконфигурировать JEM-2100Plus для решения самых разнообразных задач в сфере материаловедения, микро- и наноэлектроники, биологии и медицины.

Новая система управления «TEM Center», которая уже опробована на других моделях ПЭМ (JEM-1400Plus, JEM-ARM200F и др.) и доказала удобство и эффективность, работает под 64-битной версией Microsoft Windows и позволяет легко переключаться между различными режимами работы. На экран компьютера выведено управление всеми основными параметрами прибора.

Высокоточный, стабильный гониометрический столик образцов JEM-2100Plus, оснащенный пьезомеханической системой подвижки и компенсации дрейфа, позволяет получать четкие микрофотографии высокого разрешения, осуществлять элементное картирование образцов с высокой локальностью, а также проводить их 3D-томографию.

В конструкцию электронно-оптической колонны JEM-2100Plus заложены три независимые конденсорные линзы, которые обеспечивают высокий ток для любого диаметра пучка, обеспечивая тем самым широкие возможности для проведения элементного анализа и микродифракции. Разработанный специалистами компании JEOL Alpha Selector™ позволяет пользователю легко выбирать любой режим освещения образца: от полностью сходящегося пучка до полностью параллельного. Наблюдение магнитных доменов (микроскопия Лоренца) доступно даже в базовой комплектации прибора. Диафрагма высокого контраста, совместимая с любым полюсным наконечником, позволяет одновременно получать высококонтрастные изображения и проводить элементный анализ.

Возможность выбора цифровых камер от третьих производителей или собственная разработка JEOL – полностью интегрированная 8Мп камера нижнего крепления, с четко работающим набором автофункций (экспозиция, автофокус, запись и монтаж изображений, компенсация дрейфа) и управлением через общий TEM Center. В комбинации с ПРЭМ-режимом также есть возможность использования функций автофокусировки, автоконтраста/автояркости и системы навигации, позволяющей автоматически перемещать столик образцов в любую ранее записанную точку.

Конфигурация Сверхвысокое разрешение Высокое разрешение Большой наклон образца Крио Высокий контраст
Разрешение
по точкам, нм 0,194 0,23 0,25 0,27 0,31
по решетке, нм 0,14
Ускоряющее напряжение
Предустановленные значения 80, 100, 120, 160, 200 кВ
Минимальный шаг изменения напряжения 50 В
Стабильность параметров электронно-оптической колонны
ускоряющего напряжения 2х10-6/мин.
тока объективной линзы 2х10-6/мин.
Параметры объективной линзы
Фокусное расстояние 1,9 мм 2,3 мм 2,7 мм 2,8 мм 3,9 мм
Коэффициент сферических аберраций 0,5 мм 1,0 мм 1,4 мм 2,0 мм 3,3 мм
Коэффициент хроматических аберраций 1,1 мм 1,4 мм 1,8 мм 2,1 мм 3,0 мм
Минимальный шаг фокуса 1,0 нм 1,5 нм 1,8 нм 2,0 нм 5,2 нм
Диаметр фокусного пятна на образце
В режиме ПЭМ 20-200 нм 1 – 5 мкм
В режиме ПРЭМ/ЭДС 0,5 – 25 нм,
угол схождения пучка зависит
1,0 – 25 нм,
угол схождения пучка
1,5 – 35 нм,
угол схождения пучка
2,0 – 45 нм,
угол схождения пучка
10 – 500 нм
В режиме нормальной дифракции
В режиме дифракции в сходящемся пучке от α селектора зависит от α селектора зависит от α селектора зависит от α селектора  
Режим дифракции в сходящемся пучке
Угол схождения (2α) 1,5 – 20 мрад. или более - -
Угол сбора ±10° - -
Увеличение
В режиме высоких увеличений х 2’000 –1’500’000 х 1’500 – 1’200’000 х 1’200 – 1’000’000 х 1’000 – 800’000
В режиме низких увеличений х 50 – 6’000 х 50 – 2’000
В режиме дифракции х 8’000 – 800’000 х 6’000 – 600’000 х 5’000 – 600’000 х 5’000 – 400’000
Длина камеры
SA DIFF, мм 80 – 2’000 100 – 2’500 150 – 3’000
HD DIFF, мм 4 – 80
Диапазоны перемещений и углов наклона образца
Углы наклона по осям X / Y (при двойном наклоне) ±25°/ ±25° ±35°/ ±30° ±42°/ ±30° ±15°/ ±10° ±38°/ ±30°
Угол наклона по оси X ±25° ±80° ±80° ±80° ±80°
Диапазоны перемещений, мм 2 (X,Y)
0,2 (Z ± 0,1 мм)
2 (X,Y)
0,4 (Z ± 0,2 мм)
Наверх