Телефон:
+7-495-223-4000
Факс:
+7-495-223-4001
E-mail:
main@tokyo-boeki.ru

Jeol JEM-2200FS

Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | main@tokyo-boeki.ru
200 кВ ПЭМ со встроенным Омега-фильтром
Оптимальное решение для исследований в области нанотехнологий, включая нанобиотехнологии, материаловедение и полупроводниковую промышленность.
Встроенный Омега-фильтр позволяет решать аналитические задачи, а также существенно улучшает контраст изображений, даже при работе с толстыми или замороженными образцами.

Микроскоп JEM-2200FS имеет встроенную прецизионную ПЗС камеру, взамен традиционного флуоресцентного экрана и бинокуляра.

Как и все ПЭМ последнего поколения, данный микроскоп имеет полностью автоматическую систему управления.

Тип полюсного наконечника Ультравысокого разрешения Высокое разрешение С большим углом наклона образца Криогенный Высококон-трастный
Разрешение
По точкам, нм 0,19 0,23 0,25 0,27 0,31
По решетке, нм 0,1 0,14
Энергетическое разрешение 0,8 эВ (пик нулевых потерь ПШПВ)
Ускоряющее напряжение
Предустановленные значения 80, 100, 120, 160, 200 кВ
Минимальный шаг изменения напряжения 50 В
Сдвиг по шкале энергий до 3’000 В (шаг 0,2 В)
Источник электронов
Тип эмиттера ZrO/W (100) катод Шоттки
Яркость не менее 4×108 A/(см²*стерадиан)
Степень вакуума в пушке 10-8 Па
Ток пучка 0,5 нА при диаметре пучка 1 нм
Стабильность параметров электронно-оптической колонны
Высокое напряжение 2х10-6/мин.
Ток объективной линзы 1х10-6/мин.
Ток линзовой системы фильтра 1х10-6/мин.
Параметры объективной линзы
Фокусное расстояние 1,9 мм 2,3 мм 2,7 мм 2,8 мм 3,9 мм
Коэффициент сферических аберраций 0,5 мм 1,0 мм 1,4 мм 2,0 мм 3,3 мм
Коэффициент хроматических аберраций 1,1 мм 1,4 мм 1,8 мм 2,1 мм 3,0 мм
Минимальный шаг фокуса 1,0 нм 1,4 нм 1,8 нм 2,0 нм 5,2 нм
Диаметр фокусного пятна на образце
В режиме ПЭМ от 2 до 5 нм от 7 до 30 нм
В режиме ЭДС от 0,5 до 2,4 нм от 1,0 до 2,4 нм - от 4 до 20 нм
В режиме нормальной дифракции - -
В режиме дифракции в сходящемся пучке от 1,0 до 2,4 нм -
Параметры режима дифракции в сходящемся пучке
Угол схождения 2α) от 1,5 до 20 мрад. -
Угол сбора ±10° -
Диапазоны увеличений
В режиме высоких увеличений От 2’000 до 1’500’000 От 2’000 до 1’200’000 От 1’500 до 1’000’000 От 1’2000 до 600’000
В режиме низких увеличений От 50 до 1 500
В режиме дифракции От 10’000 до 800’000 От 8’000 до 600’000 От 8’000 до 500’000 От 5’000 до 400’000
Длина камеры
В режиме дифракции в сходящемся пучке (мм) От 150 до 1’500 От 200 до 2’000 От 250 до 2’500 От 300 до 3’000
Дисперсия схпээ
На щели энергоселектора 1,2 мкм/эВ при 200 кВ
На регистрирующем устройстве от 50 до 300 мкм/эВ при 200 кВ
Диапазоны перемещений и углов наклона образца
Перемещение по осям X и Y ±1
Перемещение по оси Z ±0,1 мм ±0,2 мм
Наклон образца по осям X / Y ±25°/ ±25° ±35°/ ±30° ±42°/ ±30° ±60°/ - ±38°/ ±30°
Наверх