Телефон:
+7-495-223-4000
Факс:
+7-495-223-4001
E-mail:
main@tokyo-boeki.ru

Jeol JEM-ARM200F

Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | main@tokyo-boeki.ru
200 кВ ПЭМ с атомным разрешением

JEM-ARM200F - ПЭМ нового поколения, уже завоевавший признание пользователей, благодаря высокой надежности и прекрасным техническим характеристикам.
Встроенные додекапольные корректоры сферических аберраций (Cs-корректоры) производства JEOL, ПРЭМ-режим и возможность оснащения дополнительными приставками делают этот микроскоп поистине универсальным.

ПЭМ JEM-ARM200F выпускается в двух версиях: с источником электронов на базе термополевого катода Шоттки или с «холодным» (автоэмиссионным) катодом. В первом случае, при использовании темнопольного высокоуглового детектора (STEM-HAADF), прибор позволяет получать разрешение 80 пикометров. В модификации с «холодным» катодом гарантируется разрешение 78 пикометров и энергетическая дисперсия пучка в пределах 0,3 эВ. При этом более высокая яркость пучка, меньший энергетический разброс и сверхстабильная эмиссия существенно повышают качество получаемых изображений, локальность и достоверность результатов элементного анализа. JEM-ARM200F с холодным катодом – единственный в мире прибор с технологией «Flash & Go», позволяющей осуществлять периодический отжиг катода (flashing) за очень короткий промежуток времени (1 минута!), экономя время исследователя.

Атомное пространственное разрешение в JEM-ARM200F сочетается с высоким током зонда, что определяет высокую скорость проведения микроанализа. JEM-ARM200F демонстрирует высочайшую стабильность, как при получении изображений, так и в режиме анализа в суб-нанометровом диапазоне.

Гарантированное разрешение
в режиме ПРЭМ 0,08 нм (при 200 кВ) / 0,078 (с холодным катодом)
в режиме ПЭМ по точкам 0,19 нм (при 200 кВ)
0,11 нм с ПЭМ Cs-корректором (при 200 кВ)
в режиме ПЭМ по решетке 0,10 нм
Увеличение
в режиме ПРЭМ от х200 до х150 000 000
в режиме ПЭМ от х50 до х2 000 000
Источник электронов
Электронная пушка С термополевым катодом Шоттки ZrO/W (100), либо с автоэмиссионным («холодным») катодом
Ускоряющее напряжение от 80 до 300 кВ (60 кВ опционально)
Столик образцов
Тип столика Эвцентрический с боковым вводом
Диаметр образцов 3 мм
Угол наклона ±25° (при использовании держателя с двойным наклоном)
Диапазоны перемещения по X/Y: ±1,0 мм (моторизация + пьезоподвижка)
Cs-корректоры и приставки
Cs-корректор ПРЭМ-режима в стандартном комплекте прибора
Cs-корректор ПЭМ-режима опционально
Дополнительные приставки - Энергодисперсионный спектрометр
- Спектрометр характеристических потерь энергии электронов и/или энергетический фильтр
- Различные ПЗС-камеры бокового и нижнего крепления
- Держатели с охлаждением, нагревом, механическими нагрузками на образец и т.п.
Наверх