Телефон:
+7-495-223-4000
Факс:
+7-495-223-4001
E-mail:
main@tokyo-boeki.ru

Jeol JEM-F200

Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | main@tokyo-boeki.ru
200кВ ПЭМ

JEM-F200 - универсальный 200кВ аналитический просвечивающий электронный микроскоп нового поколения, воплотивший в себе весь многолетний опыт специалистов компании JEOL по разработке удобных в эксплуатации, надежных ПЭМ высокого разрешения.
Использование различных источников электронов (термополевого либо автоэмиссионного), разных полюсных наконечников и разнообразных приставок позволяет сконфигурировать JEM-F200 для исследования любых образцов и решения любых задач.
Полюсный наконечник Сверхвысокого разрешения Высокого разрешения
Разрешение по точкам (TEM), нм 0,19 0,23
Разрешение по решетке (TEM), нм 0,1  
Разрешение по решетке (STEM-HAADF), нм 0,14 (автоэмиссионный катод)
0,16 (катод Шоттки)
0,16 (автоэмиссионный катод)
0,19 (катод Шоттки)
Ускоряющее напряжение 80-200кВ
20-200кВ (опция)
Тип эмиттера ZrO/W (100) катод Шоттки, либо W <310> автоэмиссионный катод
Диапазон увеличений ПЭМ: х20 – х2 000 000
ПРЭМ: х200 – х150 000 000
 
Максимальный угол наклона образца ±80° (с использованием держателя высокого наклона)
Устанавливаемые приставки Энергодисперсионный спектрометр (ЭДС) – до 2 шт.
Спектрометр характеристических потерь энергии электронов
Цифровые камеры (ПЗС или КМОП)
Система ПЭМ-томографии
*характеристики приведены для полюсного наконечника сверхвысокого разрешения
Наверх