Телефон:
+7-495-223-4000
Факс:
+7-495-223-4001
E-mail:
main@tokyo-boeki.ru

Jeol JSM-7200F

Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | main@tokyo-boeki.ru
Микроскоп с полевой эмиссией
JSM-7200F - Новый растровый электронный микроскоп компании JEOL, JSM-7200F, разрабатывался как универсальный прибор, способный работать практически с любыми образцами и решать практически любые задачи. визуальном исследования образцов.
Этот РЭМ позволяет изучать даже магнитные, электронепроводящие, биологические, а также чувствительные к воздействию электронного пучка образцы. Примененная в нем запатентованная компанией JEOL технология Shottky Plus позволяет достигать высокого разрешения при низких ускоряющих напряжениях (1,6 нм при 1 кВ), а также получать высокие токи пучка – до 300 нА.

Гибридная коническая объективная линза JSM-7200F является комбинацией электромагнитной и электростатической линз. Ее конструкция позволяет полностью исключить воздействие магнитного поля линзы на образец, что очень важно для исследования магнитных материалов, а также для получения картин дифракции отраженных электронов. Энергетический фильтр и так называемая система TTL (“through-the-lens”), встроенная в электронную колонну JSM-7200F базовой комплектации, позволяет получать изображения, используя электроны только с определенными энергиями. Это дает возможность оператору РЭМ JSM-7200F получать массу дополнительной информации об объектах исследований.

Разрешение в режиме высокого вакуума 1,2 нм (30 кВ),
1,6 нм (1 кВ),
3,0 нм (15 кВ, 5 нА, рабочий отрезок 10 мм)
Разрешение в режиме низкого вакуума 1,8 нм (30 кВ, 30 пА)
Тип катода Термополевой (Шоттки)
Увеличение х10- x1 000 000
Ускоряющее напряжение 10 В - 30 кВ
Ток пучка 1 пА - 300 нА
Линза, оптимизирующая угол вхождения пучка в диафрагму Встроена по умолчанию
Энергетический фильтр Доступен в базовой комплектации
Предметный столик Эвцентрический гониометрический столик
Моторизованный по 5-ти осям
Диапазон перемещений: X: 35 мм, Y: 50 мм, Z: 39 мм
Наклон: от -5° до 70°
Вращение: 360°, непрерывное
Диапазон рабочих отрезков от 2 до 41 мм
Вакуумный шлюз Входит в базовую комплектацию
Низковакуумный режим Доступен
Давление в камере образцов при работе в низковакуумном режиме От 10 до 300 Па
Вакуумная система Полностью автоматизирована
Ионный насос — 2 шт.
Турбомолекулярный насос — 1 шт.
Форвакуумный ротационный насос — 2 шт.
Устанавливаемые опции Энергодисперсионный спектрометр
Спектрометр с дисперсией по длинам волн
Система дифракции отраженных электронов
Система катодолюминесценции
Наноманипуляторы
Детектор тока, индуцированного пучком (EBIC)
Система РЭМ-томографии Gatan 3View
Спектрометр мягкого рентгеновского излучения
Наверх