Телефон:
+7-495-223-4000
Факс:
+7-495-223-4001
E-mail:
main@tokyo-boeki.ru

Nikon N-SIM

Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | main@tokyo-boeki.ru
Микроскоп сверхвысокого разрешения Nikon N-SIM
С помощью высокочастотного структурированного освещения модель N-SIM достигает разрешения в 115 нм, что ранее считалось недостижимым результатом для оптического микроскопа. Кроме того, обеспечивая временное разрешение 0,6 сек/кадр, микроскоп N-SIM делает возможным съемку с временным разрешением молекулярных взаимодействий живых клеток с высоким пространственным разрешением. Живые образцы можно держать в оптимальных условиях окружающей среды с помощью инкубатора установленного на предметный столик и специально разработанного для N-SIM.
Разрешение по XY Приблизительно 100 нм (до 85 нм: теоретически, в режиме TIRF-SIM, 488-нм возбуждение)
Разрешение по оси Z Приблизительно 300 нм
Скорость захвата изображения До 0,6 сек/кадр (TIRF-SIM/2D-SIM) до 1 сек (3D-SIM) (необходимо еще 1-2 сек для подсчета)
Режим получения изображений TIRF-SIM (сверхвысокое разрешение TIRF XY)
2D-SIM (сверхвысокое разрешение по осям XY, до 3 мкм вглубь)
3D-SIM (сверхвысокое разрешение по осям XYZ, до 20 мкм вглубь)
Многоцветные изображения До 5 цветов
Совместимый лазер Стандарт: 488 нм, 561 нм
Опционально: 457 нм, 515 нм, 532 нм
Совместимые микроскопы Моторизованный инвертированный микроскоп ECLIPSE Ti-E
Система «идеального фокуса» Perfect Focus System
Кодированный моторизированный XY стол
Пьезо -столик
Объективы: CFI Apo TIRF 100x oil (NA 1,49)
CFI Plan Apo IR 60x water (NA 1,27)
CFI SR Plan Apo IR 60X WI (NA 1,27)
CFI SR Apo TIRF 100xH (NA 1,49)
Камера Andor Technology iXon DU897 EMCCD
Программное обеспечение NIS-Elements AR/NIS-Elements C (с конфокальным микроскопом A1)
Рекомендуемые условия 25°C ± 0.5°C
Наверх