Tokyo Boeki провела экскурсию в Международную школу микроскопии

7 июня 2012 года Tokyo Boeki организовала экскурсию в Международную школу микроскопии (НИТУ "МИСиС"). Мероприятие прошло в рамках 5-ой школы «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии».

Во время экскурсии ведущие специалисты Tokyo Boeki и МИСиС рассказали об опыте подготовки и сертификации специалистов в области метрологии. В рамках экскурсии компания Oxford Instruments провела демонстрацию работы интегрированной системы на базе детекторов ЭДС и ДОРЭ AZTEC Synergy.

Международная школа микроскопии является результатом сотрудничества НИТУ "МИСиС" и компании Tokyo Boeki. В учебном центре ведется профессиональная подготовка специалистов в области электронной и оптической микроскопии и микроанализа. По окончании курсов, при успешной сдаче квалификационных экзаменов, выдается диплом государственного образца.

• Растровая электронная микроскопия
• Просвечивающая электронная микроскопия

• Рентгеновский микроанализ и дифракция обратно рассеянных электронов
• Сканирующая зондовая микроскопия

• для просвечивающей электронной микроскопии
• для растровой электронной микроскопии
• для сканирующей зондовой микроскопии
• для элементного микроанализа и дифракции обратно рассеянных электронов.

Обучение ведется в современной мультимедийной аудитории, оборудованной с использованием новейших образовательных IT технологий. Преподавателями школы являются преподаватели и научные сотрудники НИТУ МИСиС.

• научно-практические и методические семинары в области микроскопии с привлечением представителей производителей и поставщиков оборудования
• электронно-микроскопические исследования образцов заказчика силами специалистов школы.

По всем вопросам обучения в школе просим обращаться:
Компания «Tokyo Boeki»
Тел: +7-495-223-4000
Факс: +7-495-223-4001
E-mail: main@tokyo-boeki.ru